`rchardfeynman` ile İlgili Madde Sonuçları

Taramalı Tünelleme Mikroskobu (Scanning Tunneling Microscope, STM), iletken yüzeylerin atomik çözünürlükte incelenmesine olanak tanıyan bir görüntüleme cihazıdır. Elektron tünelleme prensibine dayanarak çalışır ve yüzey topografisini yüksek hassasiyetle analiz edebilir. STM, nanoteknoloji ve yüzey bilimi alanlarında yaygın olarak kullanılmaktadır. Tarihçe STM, 1981 yılında IBM Zürih Araştırma Laboratuvarı’nda Gerd Binnig ve Heinrich Rohrer tarafından geliştirilmiştir. Bu icat, yüzey bilimi ve na